三維表面形貌測量儀採用了上等光學系統,可透過非破壞觀察法生產高畫質的影象並進行3D測量╃✘₪₪，可以滿足不同樣品的觀測需求✘↟。本產品是用於表面結構測量和表面形貌分析的一款檢測裝置╃✘₪₪，測量精度重複性達到世界較高水平；關鍵硬體採用美國│✘✘••、德國│✘✘••、日本等；配備進口第三方校準標準件╃✘₪₪，高性價比微觀形貌測量裝置✘↟。
應用│◕◕▩·：
三維表面形貌測量儀用來測量表面物理形貌╃✘₪₪，進行微奈米尺度的三維形貌分析╃✘₪₪，如3D表面形貌│✘✘••、2D的縱深形貌│✘✘••、輪廓│✘✘••、表面粗糙度等；
1│✘✘••、精密部件│◕◕▩·：檢測對錶面磨損╃✘₪₪，表面粗糙度╃✘₪₪，表面微結構有要求的零部件╃✘₪₪，比如發動機汽缸│✘✘••、刀口等；
2│✘✘••、生命科學│◕◕▩·：測量stents支架上鍍層厚度等；
3│✘✘••、微電子機械系統│◕◕▩·：微型器件的檢測╃✘₪₪，醫藥工程中組織結構的檢測╃✘₪₪，如基因晶片等；
4│✘✘••、半導體│◕◕▩·：檢測微型電子系統╃✘₪₪，封裝及輔助產品結構設計；
5│✘✘••、太陽能│◕◕▩·：太陽能電池片柵線的3D形貌表徵│✘✘••、高寬比測量╃✘₪₪，制絨後3D形貌表徵╃✘₪₪，粗糙度分析等；
6│✘✘••、紙張│◕◕▩·：紙張│✘✘••、錢幣表面三維形貌測量；
7│✘✘••、LED│◕◕▩·：用於藍寶石襯底的測量╃✘₪₪，抽檢PSS ICP後的WAFER的3D形貌✘↟。
產品特性│◕◕▩·：
1│✘✘••、採用白光共聚焦色差技術╃✘₪₪，可獲得奈米級的分辨；
2│✘✘••、測量具有非破壞性╃✘₪₪，測量速度快╃✘₪₪，精確度高；
3│✘✘••、測量範圍廣╃✘₪₪，可測透明│✘✘••、金屬材料╃✘₪₪，半透明│✘✘••、高漫反射╃✘₪₪，低反射率│✘✘••、拋光│✘✘••、粗糙材料；
4│✘✘••、尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面；
5│✘✘••、不受樣品反射率的影響；
6│✘✘••、不受環境光的影響；
7│✘✘••、測量簡單╃✘₪₪，樣品無需特殊處理✘↟。
